MicroLED 晶圆测量 - LumiTop 成像色度计

为了高效测量一个晶圆上的数千颗μLED，测试程序必须并行处理。因此，制造商在测量晶圆时，必须同时接触尽可能多的μLED。此外，光学检测应快速、准确，并与生产流程同步进行。这只有在使用具专门校准的仪器，进行二维测量的情况下，才能起到防止测量误差的作用。德国IS光测的LumiTop成像色度系统特别适合应用在此测量挑战。