超高分辨率显示屏测量

尖端的OLED和MicroLED需要在单像素层面进行分析和校正，以获得最佳性能。LumiTopX150将高分辨率摄像头与专门的演算法相结合，可快速、直接地进行像素和均匀性校正。德国IS光测的测量专家很乐意为您的特殊应用提供实用建议。敬请垂询！请联系：sales@instrumentsystems.com